The present application provides a sampling system which includes a sampler for bringing back a sample of a ground surface; a projector configured to project a reference mark onto the ground surface, the reference mark including a line that has a predetermined shape; a camera configured to capture an image of the reference mark that is displayed on the ground surface by projection; an arm whose distal end portion is provided with the sampler, the projector, and the camera; a controller configured to obtain a size of the line that is displayed on the ground surface by projection, based on image data of the reference mark captured by the camera; adjust a height position of the projector based on the obtained size of the line; and specify a sampling point, into which the sampler is thrown and inserted, based on the image data of the reference mark.

    La présente demande concerne un système déchantillonnage, qui comprend un échantillonneur pour récupérer un échantillon dune surface de sol, un projecteur configuré pour projeter un repère sur la surface du sol, le repère comprenant une ligne dune forme prédéterminée, une caméra configurée pour enregistrer une image du repère affiché sur la surface de sol par projection, un bras dont lextrémité distale comprend léchantillonneur, le projecteur et la caméra, et une commande configurée pour obtenir une dimension de la ligne affichée sur la surface de sol par projection en fonction des données dimage du repère enregistrées par la caméra, ajuster une position de hauteur du projecteur en fonction de la taille de ligne obtenue et préciser un point déchantillonnage dans lequel léchantillonneur est lancé et inséré en fonction des données dimage du repère.


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    Title :

    SAMPLING METHOD AND SAMPLING SYSTEM


    Additional title:

    PROCEDE D'ECHANTILLONNAGE ET SYSTEME D'ECHANTILLONNAGE


    Contributors:

    Publication date :

    2023-06-13


    Type of media :

    Patent


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    English


    Classification :

    IPC:    G01N Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften , INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES / B64G Raumfahrt , COSMONAUTICS / G02B Optische Elemente, Systeme oder Geräte , OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS / G06V



    SAMPLING METHOD AND SAMPLING SYSTEM

    SAKAMOTO FUMINOBU / KUROSE TOYOTOSHI | European Patent Office | 2022

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