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    Title :

    Sekundaerionen-Massenspektrometrie zur Oberflaechen- und Schichtenanalyse



    Published in:

    Publication date :

    1983


    Size :

    14 pages


    Remarks:

    Thyssen tech.Ber.;15(1983)1;74-87


    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German



    Industrielle Oberflaechen

    Meckelburg,E. | Automotive engineering | 1991


    Oberflaechen-Veredelung

    Hoesch-Siegerlandwerke | Automotive engineering | 1979


    Metallisierte Oberflaechen

    Hoffmann,M.I. / Peterka,R. / Volkswagen,Wolfsburg,DE | Automotive engineering | 2004


    Qualitaetssicherung farbiger Oberflaechen

    Bruecker,F. / Lange,B.,Berlin | Automotive engineering | 1982


    Blendfreie Oberflaechen im Trend. Neue Designvarianten bei edelmatten Oberflaechen

    Dahlhaus,M. / HSO,Solingen,DE | Automotive engineering | 1999