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    Koch, Klau | IuD Bahn | 2007
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    Tan, Cher-Ming / Chiu, J. / Liu, R. et al. | Tema Archive | 2005
    Keywords: zerstörungsfreie Prüfung , Zuverlässigkeit , elektrische Prüfung , Prüfung von Halbleiterbauelementen

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    Brkic, Radomir / Adamovic, Zivoslav | Tema Archive | 2011
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