Apparatus for microwave NDT of dielectric materials by multifrequency methods
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Die dielektrischen Konstanten und die Dicken sollen in Schichtstrukturen untersucht werden, wie sie im Flugzeugbau und in der Raumfahrt Anwendung finden. Dabei müssen die Schichten gleichzeitig hinsichtlich der genannten Parameter beim Zugang nur von einer Seite geprüft werden. Dazu wird die Mehrfrequenzmethode empfohlen. Die Parameter der Grenzschichten können wie Diskontinuitäten eines Wellenleiters behandelt werden. Die Spektralanalyse wird mit einem speziell dafür entwickelten Skalar-Reflektometer durchgeführt. Die Meßsignale des mehrschichtigen Werkstoffs werden mit dem Meßsignal eines Referenzreflektors verglichen. Die praktische Erprobung der Anlage erfolgte an einem Glasfaser-Gummi-Werkstoff im Frequenzbereich von 26 bis 37,5 GHz. Es wurde exemplarisch die Positionierung der Probe im Raum untersucht. Die Unsicherheit der Dickenmessung der Probe betrug 0,4 mm. (Tietz, H.-D.)
Document information
Apparatus for microwave NDT of dielectric materials by multifrequency methods
Gerät zur zerstörungsfreien Mikrowellenprüfung dielektrischer Werkstoffe mit Mehrfrequenzmethoden
1996
4 Seiten, 4 Bilder, 3 Quellen
Conference paper
English
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