The authors collected a set of of heavy-ion single event upset test data since their last publications (ibid. vol.N5-32, no.6, p.4189, Dec. 1985). Earlier generalisations are extended to state-of-the art parts, and the statistical base for some of the previous parts classifications is expanded.


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    Titel :

    Recent trends in parts SEU susceptibility from heavy ions


    Weitere Titelangaben:

    Entwicklungstrends beim Haerten von integrierten Halbleiterschaltungen gegenueber schwerer Ionenstrahlung


    Beteiligte:
    Nichols, D.K. (Autor:in) / Smith, L.S. (Autor:in) / Price, W.E. (Autor:in) / Koga, R. (Autor:in) / Kolasinski, W.A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    IEEE Transactions on Nuclear Science ; NS-34 , 6, PT.1 ; 1332-1337


    Erscheinungsdatum :

    1987


    Format / Umfang :

    6 Seiten, 2 Quellen



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Trends In Susceptibility To Single-Event Upset

    Nichols, Donald K. / Price, William E. / Kolasinski, Wojciech A. et al. | NTRS | 1989


    Parts Engineering Experiences, Philosophies and Trends

    Shaw, Harry / Day, John H. | NTRS | 2000


    Recent Trends in Workstations

    Soshi, M. / Kawata, Y. / Nakamura, K. et al. | British Library Online Contents | 1994


    Trends in rubber parts for brakes

    Walder,J. / Acushnet Rubber Division,US | Kraftfahrwesen | 1988