Ziel ist es, durch Entnahme und Charakterisierung der Verschleißprodukte, auf den Zustand einer Anlage zu schließen, um daraus Aussagen über gegebenenfalls nötige Instandhaltungsmaßnahmen abzuleiten. Dazu wird über Erfahrungen bei der Schmieröluntersuchung auf zusätzliche Bestandteile in der zivilen und militärischen Luftfahrt in Großbritannien berichtet. Bei den Verschleißprodukten kann es sich entweder um sehr feine, als Suspension vorliegende Bestandteile oder um größere, durch magnetische Abtrennung oder Filterung zu separierende Bestandteile handeln. Daraus sind Aussagen über den üblichen Verschleiß, den beginnenden stärkeren Verschleiß oder einen kritischen bis gefährlichen Verschleiß möglich. Für Partikel mit Abmessungen kleiner als 5 Mikrometer findet die spektrometrische Ölanalyse Anwendung. Mit einem induktiv gekoppelten Plasma-Atomemissionsspektrometer sind bis zu 23 Elemente gleichzeitig je Probe zu analysieren. Für noch kleinere Teilchen und bis in den Abmessungsbereich von einigen Millimetern findet das Rasterelektronenmikroskop in Verbindung mit der energiedissipativen Röntgenanalyse Verwendung. Durch die gleichzeitige Anregung von Sekundär- und Rückstreuelektronen sowie einer Röntgenstrahlung sind eine morphologische und eine Elementanalyse möglich. Teilchen größer als 100 Mikrometer werden zweckmäßig einer Röntgenfluoreszenzanalyse unterzogen. In der letzten Zeit ist es bei dieser Methode durch die Leitung der Röntgenstrahlen durch ein optisches Kapillarsystem gelungen, die Auflösung auf einen Bereich von 50 Mikrometer zu reduzieren. Weitere Erwähnung findet die visuelle Auswertung der Rückstände mit Klassifizierung und Referenzvergleichen sowie die Auswertung der magnetischen Eigenschaften. (Condition Monitoring 2001, Oxford, GB, June 25-27) (Tietz, H.-D.)
Micro to macro. Wear debris analysis as a condition monitoring tool
Mikro- und Makro-Verschleißproduktanalyse. Ein Mittel zur Zustandsüberwachung
Insight ; 44 , 8 ; 498-502
2002
5 Seiten, 7 Bilder, 9 Quellen
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
Engine Seizure Monitoring System Using Wear Debris Analysis and Particle Measurement
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