Die vorgestellten EMV IC-Messverfahren ermöglichen es die elektromagnetischen Emission von ICs während ihres funktionellen Betriebes zu erfassen. Applikationsspezifische Besonderheiten können bei den Messungen weitestgehend ausgeschlossen werden. Damit ist es erstmals möglich eine datenbasierte Aussagen über das EMV - Verhalten von Elektronikbaugruppen zu machen, bevor eine Hardwareentwicklung beginnt. Genauso können Veränderungen des EMV- Verhaltens von Elektronik Baugruppen bewertet werden, wenn Substitutionen von ICs durch Nachfolgeprodukte notwendig sind. Aufgrund unterschiedlicher EMV- Störphänomene der ICs sind nicht alle Verfahren gleich geeignet die Emission eines speziellen IC zu charakterisieren und die Ergebnisse ineinander zu korrelieren. Hier ist bei der Auswahl des Verfahrens für IC- Typen und Applikationen Expertise erforderlich. Für die Bewertung der Emissionen von Smart Power ICs ist das 1 ohm- /150 ohm-Messverfahren am besten geeignet.


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    Titel :

    ESD im Kraftfahrzeugbereich


    Weitere Titelangaben:

    ESD in the field of automotive devices


    Beteiligte:
    Frei, S. (Autor:in) / Edenhofer, J. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2001


    Format / Umfang :

    10 Seiten, 17 Bilder, 2 Tabellen, 9 Quellen




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




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