In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
In situ characterization of electronic features of Si-nanoparrticles with impedance spectroscopy.
Technische Mitteilungen HT Essen ; 99 , 1/2
2006
6 pages
Technische Mitteilungen HT Essen;99(2006)1/2 ;68-73
Aufsatz (Zeitschrift)
Deutsch
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