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    Overview of Polarimetric Interferometry

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    Dokumentinformationen

    Titel :

    Overview of Polarimetric Interferometry

    Beteiligte:
    Kim, Y. (Autor:in) / van Zyl, J. (Autor:in) / Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Kongress:

    Aerospace conference ; 2000 ; Big Sky, MT

    Erschienen in:

    Aerospace conference ; 231-236

    IEEE AEROSPACE CONFERENCE PROCEEDINGS

    Erscheinungsdatum :

    2000-01-01

    Format / Umfang :

    6 pages

    Anmerkungen:

    IEEE cat no 00TH8484

    ISBN :

    0780358465 , 0780358473

    ISSN :

    1095-323X

    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)

    Format :

    Print

    Sprache :

    Englisch

    Schlagwörter :

    aerospace , IEEE

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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