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    0.1 mu m InGaAs/InAlAs/InP HEMT MMICs - a flight qualified technology

    Chou, Y.C. / Leung, D. / Lai, R. et al. | Tema Archiv | 2002
    Schlagwörter: Prüfung integrierter Schaltungen

    3-layered 3D flex based MCM: electrical characterization and reliability issues

    Morrison, W.B. / Railkar, T.A. / Malshe, A.P. et al. | Tema Archiv | 1999
    Schlagwörter: Prüfung integrierter Schaltungen

    Accelerated testing of flip chip packages under dynamic load

    Rau, I. / Miessner, R. / Liebing, G. et al. | Tema Archiv | 2001
    Schlagwörter: dynamische Prüfung , beschleunigte Prüfung

    Acoustic and random vibration test tailoring for low-cost missions

    Forgrave, J.C. / Man, Kin-F. / Newell, J.M. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: mechanische Prüfung , akustische Prüfung

    Acoustics of UH-60 black hawk with growth rotor blades

    Santa Maria, O.L. / Mueller, A.W. / Conner, D.A. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Test (Prüfung)

    Active approach for holographic nondestructive testing of satellite fuel tanks

    Merz, T. / Elandaloussi, F. / Paulus, D. et al. | Tema Archiv | 1999
    Schlagwörter: zerstörungsfreie Prüfung

    A decision support system for fuzzy scheduling of software projects

    Sanal, U.Z. | Tema Archiv | 2000
    Schlagwörter: Prüfung elektronischer Ausrüstungen

    Adhesive bonding and lightweight structures in shipbuilding

    Weitzenböck, Jan R. / Brede, Markus | Tema Archiv | 2006
    Schlagwörter: mechanische Prüfung

    A distributed decision support system for operational units application to a manufacturing unit

    Gertosio, C. / Dussauchoy, A. | Tema Archiv | 2003
    Schlagwörter: Prüfung

    Advanced IGBT modules for railway traction applications: Reliability testing

    Berg, H. / Wolfgang, E. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung von Halbleiterbauelementen

    Aeroacoustic flight test data analysis and guidelines for noise-abatement-procedure design and piloting

    Spiegel, Pierre / Guntzer, Frederic / Duc, Anne le et al. | Tema Archiv | 2009
    Schlagwörter: Test (Prüfung)

    Ageing testing procedures on lithium batteries in an international collaboration context

    Conte, Mario / Conte, Fiorentino V. / Bloom, Ira D. et al. | Tema Archiv | 2010
    Schlagwörter: beschleunigte Prüfung

    Akkreditierte Prüflaboratorien in der Automobil-Zulieferindustrie

    Zimmermann, R. / Berner, K. | Tema Archiv | 2001
    Schlagwörter: zerstörungsfreie Prüfung

    ALLADIN - state of the art to assemble, to integrate and to test most complex airborne systems

    Peer, Norbert / Schneidereit, Ulrich | Tema Archiv | 2007
    Schlagwörter: Prüfung

    Alternative short tests for inspection and maintenance of in-use cars with respect to their emissions performance

    Samaras, Z. / Zachariadis, T. / Joumard, R. et al. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung

    Alternative solders for flip chip applications in the automotive environment

    Jung, E. / Heinricht, K. / Kloeser, J. et al. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung integrierter Schaltungen

    A methodology for POD determination incorporating insight from physical models

    Thompson, R.B. / Meeker, W.Q. jun. | Tema Archiv | 1997
    Schlagwörter: zerstörungsfreie Prüfung

    An approach for a needs-driven definition of a function-oriented representation in the automotive domain

    Warkentin, Andreas / Gausemeier, Jürgen / Herbst, Joachim | Tema Archiv | 2009
    Schlagwörter: Test (Prüfung)

    A new Ag/Pd conductor for automotive applications

    Malanga, D.J. / Levitsky, M. / London, A. et al. | Tema Archiv | 1999
    Schlagwörter: Prüfung integrierter Schaltungen

    A new cylinder deactivation by FEV and Mahle

    Rebbert, Martin / Kreusen, Gerhard / Lauer, Sven | Tema Archiv | 2008
    Schlagwörter: Test (Prüfung)