De Soria-Santacruz, M. / Bates-Tarasewicz, H. A. / Chhit, W. S. et al. | IEEE | 2024

Sharakin, S. / Barghini, D. / Battisti, M. et al. | Springer Verlag | 2024

Marinelli, A / Boccardo, N / Canepa, M et al. | BASE | 2023

Suárez-Beltrán, David F. / Fontal-Beltrán, Eduardo J. / Fuentes-Verbel, Sofía et al. | Springer Verlag | 2023

Beteiligte: Pinheiro de Lima, Edson

Lordos, George C. / Hoying, Madelyn / AlSadah, Yousif et al. | AIAA | 2023

Pasquarè Mariotto F. / Bonali F. L. / Tibaldi A. et al. | BASE | 2022

Beteiligte: Bonali, F. L. , Tibaldi, A. , De Beni, E. , Corti, N. , Fallati, L.

Rivero, I. / Palomar, A. / Martin, N. et al. | British Library Conference Proceedings | 2022

Bonali F. L. / Russo E. / Vitello F. et al. | BASE | 2022

Beteiligte: Fallati, L , Corti, N , Savini, A , de Vries, B , Tibaldi, A

Tranzatto, M / Mascarich, F / Bernreiter, L et al. | BASE | 2022

de Prado M. / Rusci M. / Capotondi A. et al. | BASE | 2021

Beteiligte: de Prado, M. , Capotondi, A. , Benini, L. , Pazos, N.

de Prado M. / Rusci M. / Donze R. et al. | BASE | 2021

Beteiligte: de Prado, M. , Capotondi, A. , Benini, L. , Pazos, N.

Keelson B. / Buzzatti L. / Ceranka J. et al. | BASE | 2021

Beteiligte: Buzzatti, L. , Gutierrez, A. , De Mey, J. , Buls, N.

Benz, W. / Broeg, Chris / Fortier, Andrea et al. | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) | 2021

Sciutti A. / Battaglia F. / Fossati M. R. et al. | BASE | 2021

Beteiligte: Sciutti, A. , Dubbini, N. , Giarre, L. , Zanchettin, A. M. , Baroncelli, A. , De Luca, A. , Bicchi, A.

Morris, B. M. / Delrez, Laetitia / Brandeker, A. et al. | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) | 2021

Pierre Auger Collaboration T. / Aab A. / Abreu P. et al. | BASE | 2021

Beteiligte: Aab A. , Almela A. , Anchordoqui L. , Bakalova A. , Balaceanu A. , Bonneau Arbeletche L. , Borodai N. , Bueno A. , Caccianiga L. , Castellina A. , Cazon L. , Chytka L. , Coleman A. , Condorelli A. , De Almeida R.M. , De Jesus J. , De Jong S.J. , De Mauro G. , De Mello Neto J.R.T. , De Mitri I. , De Oliveira J. , De Oliveira Franco D. , De Palma F. , De Souza V. , De Vito E. , Di Matteo A.

Aab A. / Abreu P. / Aglietta M. et al. | BASE | 2021

Beteiligte: Aab, A. , Almela, A. , Anastasi, G. A. , Anchordoqui, L. , Badescu, A. M. , Bakalova, A. , Balaceanu, A. , Bellido, J. A. , Biermann, P. L. , Bonneau Arbeletche, L. , Borodai, N. , Botti, A. M. , Briechle, F. L. , Bueno, A. , Caccianiga, L. , Castellina, A. , Cazon, L. , Chinellato, J. A. , Chytka, L. , Cobos Cerutti, A. C. , Coleman, A. , Condorelli, A. , Day, J. A. , De Almeida, R. M. , De Jesus, J. , De Jong, S. J. , De Mauro, G. , De Mello Neto, J. R. T. , De Mitri, I. , De Oliveira, J. , De Oliveira Franco, D. , De Palma, F. , De Souza, V. , De Vito, E. , Di Matteo, A.

Yana, Charles / Weber, Renee / Walsh, William et al. | NTRS | 2021

Bisoffi, A. / Beerens, R. / Heemels, W.P.M.H. et al. | BASE | 2020

de Almeida, Luiz Eduardo N. / Goncalves, Rene F. / Rocco, Jose A. et al. | AIAA | 2020

Almeida, Luiz Eduardo N. De / Goncalves, Rene F. / Rocco, Jose A. et al. | TIBKAT | 2020

Almeida, Everton L. P. / Pellacani, Gustavo C. / Marques, Luiz A. M. M. et al. | SAE Technical Papers | 2020

Zarrinpanjeh, N. / Dadrass Javan, Farzaneh / Naji, A. et al. | BASE | 2020

Beteiligte: Paparoditis, N. , Shaker, A. , Peled, A. , Wu, L.

Lefebvre, T. / Bartoli, N. / Dubreuil, S. et al. | Elsevier | 2020

Wood, S. J. / De Dios, Y. E. / Peters, B. T. et al. | NTRS | 2020

K M Sayanagi / C L Young / L Bowman et al. | NTRS | 2020

Bortoluzzi, D. / Vignotto, D. / Zambotti, A. et al. | Elsevier | 2020

A. Y. Abu-Odeh / N. de la Fuente / W. L. Menges et al. | NTIS | 2019

Bisoffi, A. / Beerens, R. / Zaccarian, L. et al. | BASE | 2019

Eskandarian, Azim / Jung, S. / Hong, S. et al. | IEEE | 2019

Ploeg, J. / Semsar-Kazerooni, E. / Morales Medina, A.I. et al. | BASE | 2018

Moccia S. / Foti S. / Routray A. et al. | BASE | 2018

Beteiligte: Routray, A. , Perin, A. , Mattos, L. S. , De Momi, E. , Riviere, C. N.

Ribeiro, Guilherme G. L. / Lima, Luan F. de / Oliveira, Luiz et al. | IEEE | 2018

Bielski, M / Syrigos, L / Katrinis, K et al. | BASE | 2018

Salatino, M. / Bélier, B. / Chapron, C. et al. | SPIE | 2018

Cropper, Mark / Pottinger, S. / Azzollini, R. et al. | SPIE | 2018

Ioannou, Petros / Sun, J. / Li, T. et al. | IEEE | 2018

de Jong, P. M. A. / Bussink, F. J. L. / Verhoeven, R. P. M. et al. | AIAA | 2016

Kofman, I. S. / Warren, E. / DeSoto, R. et al. | NTRS | 2017

Mulavara, A. / Peters, B. / De Dios, Y. et al. | NTRS | 2017

A. Mulavara / B. Peters / G. Waddington et al. | NTIS | 2017

Reschke, M. F. / Kozlovskaya, I. B. / Kofman, I. S. et al. | NTRS | 2017

Ishikawa, R. / Kano, R. / Winebarger, A. et al. | NTRS | 2017

Guiomar, F. P. / Amado, S. B. / Ferreira, R. M. et al. | British Library Online Contents | 2016

ZEDIKER MARK S / GRUBB DARYL L / DE WITT RONALD A et al. | Europäisches Patentamt | 2016

H. Cottin / J. M. Kotler / R. Quinn et al. | NTIS | 2016

Bruno, A. / Adriani, O. / Barbarino, G.C. et al. | Elsevier | 2016

Soucek, J. / Ahlen, L. / Bale, S. et al. | IEEE | 2016

Aaij, R. / Abellán Beteta, C. / Adeva, B. et al. | BASE | 2016

Aaij, R. / Beteta, C. Abellan / Adeva, B. et al. | BASE | 2016

Beteiligte: Affolder, A. , Alves, A. A. , An, L. , Anderlini, L. , Artamonov, A. , Badalov, A. , Bay, A. , Beaucourt, L. , Bel, L. J. , Belloli, N. , Berezhnoy, A. , Bertolin, A. , Birnkraut, A. , Bizzeti, A. , Bondar, A. , Bondar, N. , Borgheresi, A. , Brook, N. H. , Bursche, A. , Capriotti, L. , Carbone, A.