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person:(Pauwels, E. K. J.)

Stark, L. / Tendick, F. / Kim, W. et al. | IEEE | 1988

Ioannou, Petros / Al-Hourani, A. / Evans, R. J. et al. | IEEE | 2018

Ioannou, Petros / Sun, J. / Li, T. et al. | IEEE | 2018

Eskandarian, Azim / Jung, S. / Hong, S. et al. | IEEE | 2019

Blasch, E. / Salerno, J. / Kadar, I. et al. | IEEE | 2008

Cheal, J. / Foley, E. / Harman, K. | IEEE | 2001

Borgman, A. / Smith, P. J. / Evans, M. et al. | IEEE | 2011

Foley, E. / Harman, K. / Cheal, J. | IEEE | 2002

Banks, J. / Reichard, K. / Crow, E. et al. | IEEE | 2009

Rohrer, J. P. / Jabbar, A. / Cetinkaya, E. K. et al. | IEEE | 2011

Gai, E. / Harrison, J. V. / Daly, K. C. | IEEE | 1979

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