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de Sterke, C.M. / Dignam, M.M. / Wan, J. | IEEE | 2005

McKerracher, R.W. / Blows, J.L. / de Sterke, C.M. | IEEE | 2005

Lobo, A.E. / de Sterke, C.M. / Besley, J.A. | IEEE | 2004

McKerracher, R.W. / Blows, J.L. / de Sterke, C.M. | IEEE | 2003

Lobo, A.E. / de Sterke, C.M. / Besley, J.A. | IEEE | 2003

He, H. / Drummond, P.D. / De Sterke, C.M. | IEEE | 1999

Fussell, D.P. / McPhedran, R.C. / de Sterke, C.M. et al. | IEEE | 2003

Mok, J.T. / Tsoy, E. / Littler, I.C.M. et al. | IEEE | 2005

Wilcox, S. / Botten, L.C. / McPhedran, R.C. et al. | IEEE | 2005

Botten, L.C. / Asatryan, A.A. / Langtry, T.N. et al. | IEEE | 2003

Litchinitser, N.M. / Dunn, S.C. / Eggleton, B.J. et al. | IEEE | 2003

White, T.P. / Botten, L.C. / de Sterke, C.M. et al. | IEEE | 2003

McPhedran, R.C. / de Sterke, C.M. / Robinson, P.A. et al. | IEEE | 2003

Wilcox, S. / Botten, L.C. / de Sterke, C.M. et al. | IEEE | 2005

Myers, S.J. / Dawes, J.M. / Withford, M.J. et al. | IEEE | 2005