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Frede, M. / Wilhelm, R. / Kracht, D. et al. | IEEE | 2005

Frede, M. / Wilhelm, R. / Fallnich, C. et al. | IEEE | 2004

Dufour, R. / Nazeeruddin, A. / Wilhelm, P. et al. | TIBKAT | 2013

Miller, Alex S. / Lordos, George / Portman, Paul et al. | IEEE | 2023

Wilhelm, Jay / Eberhart, Gina M. | AIAA | 2018

Poprawe, Reinhart / Hinke, Christian / Meiners, Wilhelm et al. | SPIE | 2018

Edenborough, N. / Hammoud, R. / Harbach, A. et al. | IEEE | 2005

Kracht, D. / Frede, M. / Freiburg, D. et al. | IEEE | 2005

Kracht, D. / Frede, M. / Wilhelm, R. et al. | IEEE | 2004

Melber-Wilkending, S. / Brodersen, O. / Kallinderis, Y. et al. | Springer Verlag | 2005

Eberhart, Gina M. / Wilhelm, Jay | AIAA | 2017

Flachhuber, Michael / Scheuchenpflug, Johannes / Hilbert, Thomas et al. | SPIE | 2023

Qadi, A. / Cloutis, E. / Samson, C. et al. | Elsevier | 2014

Wilhelm, R. / Freiburg, D. / Frede, M. et al. | IEEE | 2005

Westphal, Ralf / Zaremba, David / Hassel, Thomas et al. | IEEE | 2014

Jordan, R. / Lucas, B. / Randler, M. et al. | IEEE | 2004

Fürst, Elmar Wilhelm M. / Dieplinger, Maria | Online Contents | 2013