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person:(Kumar, S.)

Hovenier, J.N. / Baryshev, A. / Gao, J.R. et al. | IEEE | 2006

Orlova, E. E. / Hovenier, J. N. / Klaassen, T. O. et al. | IEEE | 2006

Kumar, S. / Hebert, M. | IEEE | 2005

McGeehan, J.E. / Kumar, S. / Willner, A.E. | IEEE | 2005

Kumar, S. / Biswas, M. / Belongie, S.J. et al. | IEEE | 2005

Rother, C. / Kumar, S. / Kolmogorov, V. et al. | IEEE | 2005

Vitiello, M.S. / Scamarcio, G. / Spagnolo, V. et al. | IEEE | 2005

Klaassen, T.O. / Adam, A.J.L. / Hovenier, N. et al. | IEEE | 2005

Yang, Z.Q. / Hajenius, M. / Hovenier, J.N. et al. | IEEE | 2005

Kumar, S. / Willner, A.E. | IEEE | 2004