Die Entwicklung moderner und leistungsfähiger Steuergeräte erfordert mehr und mehr ein frühes entwicklungsbegleitendes Testen. In frühen Entwicklungsphasen des Steuergeräts sind häufig Modifikationen und Anpassungen des Testsystems notwendig. Berner und Mattner stellt mit dem Modular HiL ein leistungsfähiges Testsystem mit dezentraler Systemarchitektur vor, das in einem frühen Entwicklungsstadium des Steuergeräts eingesetzt werden kann. Dank modularem Aufbau ist das System sehr flexibel und kann sowohl für Komponenten als auch Gesamtsysteme eingesetzt werden. Modular HiL ist durch die Verwendung identischer Module für Komponenten- und Integrationsprüfsysteme die ideale Antwort auf diese Anforderungen. Als Einzelmodul ist Modular HiL mit seiner flexiblen Signalkonditionierung und der Verwendung offener Industrie-Standards eine kostengünstige Lösung für Komponentenprüfplätze. Im Verbund mit einer leistungsfähigen Vernetzungstechnologie stehen außerdem für den Integrationsprüfstand nahezu unbegrenzte Leistungsreserven für den Test von Fahrzeugteilsystemen sowie Gesamtfahrzeugsystemen berei
Skalierbares Testsystem Modular HiL
Scalable testing system Modular HiL
ATZ-Elektronik ; 4 ; 36-39
2006
4 Seiten, 4 Bilder
Aufsatz (Zeitschrift)
Deutsch
Skalierbares Testsystem Modular HiL
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