Ein System kann eine erste Vorrichtung und eine zweite Vorrichtung beinhalten. Die erste Vorrichtung kann ausgelegt sein, einer Komponente einer Maschine zugeordnet zu sein. Die zweite Vorrichtung kann ausgelegt sein, ein oder mehrere magnetische Abfragesignale an die erste Vorrichtung bereitzustellen und basierend auf der Bereitstellung des einen oder der mehreren magnetischen Abfragesignale zu ermitteln, ob ein magnetisches Antwortsignal von der ersten Vorrichtung empfangen wird. Die zweite Vorrichtung kann selektiv erste Verschleißinformationen bereitstellen, die ein erstes Ausmaß an Verschleiß der Komponente angeben, oder zweite Verschleißinformationen bereitstellen, die ein zweites Ausmaß an Verschleiß der Komponente angeben. Die ersten Informationen können bereitgestellt werden, wenn das magnetische Antwortsignal von der ersten Vorrichtung empfangen wird. Die zweiten Verschleißinformationen können bereitgestellt werden, wenn das magnetische Antwortsignal nicht von der ersten Vorrichtung empfangen wird. Das zweite Ausmaß an Verschleiß kann das erste Ausmaß an Verschleiß übersteigen.

A system may include a first device and a second device. The first device may be configured to be associated with a component of a machine. The second device may be configured to provide one or more interrogation magnetic signals to the first device; and determine, based on providing the one or more interrogation magnetic signals, whether a response magnetic signal is received from the first device. The second device may selectively provide first wear information indicating a first amount of wear of the component or second wear information indicating a second amount of wear of the component. The first information may be provided when the response magnetic signal is received from the first device. The second wear information may be provided when the response magnetic signal is not received from the first device. The second amount of wear may exceed the first amount of wear.