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    Titel :

    Detection of Ferroelectric Domains With a Scanning Force Microscope


    Beteiligte:
    Soergel, E. (Autor:in) / Jungk, T. (Autor:in) / Hoffmann, A. (Autor:in) / Buse, K. (Autor:in) / Zhang, G.

    Kongress:

    10th:; INTERNATIONAL CONFERENCE, Photorefractive effects, materials, and devices ; 2005 ; Sanya, China



    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    5 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Combined scanning optical and force microscope using interferometric detection [2004-35]

    Wright, C. D. / Clegg, W. W. / Cheng, S. T. et al. | British Library Conference Proceedings | 1994


    Investigation of Ferroelectric Domains in LiNbO~3 with Atomic Force Microscopy

    Benter, N. / Hoffmann, A. / Soergel, E. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Picosecond/Nanometer Resolution with a Near-field Microwave/Scanning-force Microscope

    Van der Weide, D. W. / Optical Society of America | British Library Conference Proceedings | 1997



    A scanning coherent phonon microscope

    Fujii, Y. / Suzuki, S. / Otsuka, K. et al. | IEEE | 2001