Growth and characterization of 850nm InGaAsP/InGaP strain-compensated VCSELs by MOCVD

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Growth and characterization of 850nm InGaAsP/InGaP strain-compensated VCSELs by MOCVD

Kuo, H. C. / Lu, T. C. / Chang, Y. S. / Lai, F. Y. / Kao, G. C. / Laih, L. H. / Wang, S. C. / Guo li Taiwan da xue / Taiwan guang xue gong cheng xue hui

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Dokumentinformationen

Titel :

Growth and characterization of 850nm InGaAsP/InGaP strain-compensated VCSELs by MOCVD

Beteiligte:

Kuo, H. C. (Autor:in) / Lu, T. C. (Autor:in) / Chang, Y. S. (Autor:in) / Lai, F. Y. (Autor:in) / Kao, G. C. (Autor:in) / Laih, L. H. (Autor:in) / Wang, S. C. (Autor:in) / Guo li Taiwan da xue / Taiwan guang xue gong cheng xue hui

Kongress:

5th, Pacific Rim conference on lasers and electro-optics; photonics lights innovation: from nano-structures and devices to systems and networks ; 2003 ; Taipei, Taiwan

Erschienen in:

Pacific Rim conference on lasers and electro-optics; photonics lights innovation: from nano-structures and devices to systems and networks ; 164-164

Erscheinungsdatum :

2003-01-01

Format / Umfang :

1 pages

Anmerkungen:

Includes bibliographic references and author index

ISBN :

0780377664

Medientyp :

Aufsatz (Konferenz)