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    Titel :

    Aspheric surface fabrication in nanometer-level accuracy by numerically controlled plasma chemical vaporization machining (CVM) and elastic emission machining (EEM) [4782-35]


    Beteiligte:
    Yamamura, K. (Autor:in) / Mimura, H. (Autor:in) / Yamauchi, K. (Autor:in) / Sano, Y. (Autor:in) / Saito, A. (Autor:in) / Kinoshita, T. (Autor:in) / Endo, K. (Autor:in) / Mori, Y. (Autor:in) / Souvorov, A. (Autor:in) / Yabashi, M. (Autor:in)

    Kongress:

    conference, X-ray mirrors crystals and multilayers ; 2002 ; Seattle, WA



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    6 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Topography measurement of nanometer synchrotron optics [4782-02]

    Illemann, J. / Geckeler, R. D. / Weingartner, I. et al. | British Library Conference Proceedings | 2002



    Nr. 4782

    DataCite | 1937


    Portable Software For Numerically Controlled Machining

    Poland, J. / Premack, T. | NTRS | 1994