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    Recordable depth of view and allowable farthest far-field distance of in-line far-field holography for micro-object analysis [3011-19]

    Recordable depth of view and allowable farthest far-field distance of in-line far-field holography for micro-object analysis [3011-19]


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    Titel :

    Recordable depth of view and allowable farthest far-field distance of in-line far-field holography for micro-object analysis [3011-19]

    Beteiligte:
    Lai, T. (Autor:in) / Lin, W. (Autor:in) / Benton, S. A. / Trout, T. J. / SPIE / Society for Imaging Science and Technology
    Kongress:

    Conference; 3rd, Holographic materials ; 1997 ; San Jose; CA

    Erschienen in:

    Holographic materials ; 3011 ; 156-164

    PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING ; 3011

    Erscheinungsdatum :

    1997-01-01

    Format / Umfang :

    9 pages

    ISBN :

    0819424226

    ISSN :

    0277-786X

    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)

    Format :

    Print

    Sprache :

    Englisch

    Schlagwörter :

    SPIE , imaging science , holographic materials

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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