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    Rapid Evaluation of Hermetic Seals in Automotive Microelectronic Packages Using Shearography

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    Dokumentinformationen

    Titel :

    Rapid Evaluation of Hermetic Seals in Automotive Microelectronic Packages Using Shearography

    Beteiligte:
    Hung, Y. Y. (Autor:in) / Shi, D. (Autor:in) / SAE
    Kongress:

    Session; International congress, Testing and instrumentation ; 1996 ; Detroit; MI

    Erschienen in:

    Testing and instrumentation ; 91-96

    PAPERS- SOCIETY OF AUTOMOTIVE ENGINEERS NEW YORK

    Format / Umfang :

    6 pages

    ISBN :

    1560917601

    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)

    Format :

    Print

    Sprache :

    Englisch

    Schlagwörter :

    testing , instrumentation , SAE

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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